公司擁有潔凈度1000級的測試場地，并擁有業(yè)內(nèi)先進的儀器設(shè)備，如：Cascade 的高低溫自動探針臺、PNA-X矢量網(wǎng)絡分析儀、信號源、頻譜儀、噪聲儀、半導體參數(shù)分析儀等儀器設(shè)備，具備化合物半導體器件及芯片的直流測試能力和射頻測試能力，可完成單顆有源及無源器件、MMIC芯片以及整晶圓級的測試，能進行質(zhì)量一致性檢驗
直流方面可對無源及有源器件的各項直流指標進行測量，其中電流測試可達到fA量級。
射頻方面，可對器件進行小信號S參數(shù)測試，負載牽引測試、噪聲測試。其中小信號S參數(shù)測試 頻率可達67GHz;負載牽引測試頻率可覆蓋0.8-50GHz;噪聲測試頻率可覆蓋8-50GHz。對MMIC芯片可以 進行無源類芯片、功率放大類芯片、開關(guān)類芯片、混頻類芯片以及多功能芯片的在片測試，頻率最 高可達67GHz。
對于整晶圓，我們可根據(jù)器件或芯片種類進行不同直流特性及射頻特性的自動化CP測試，從而對器件或芯片的各項性能指標進行篩選。